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TS系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱*設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
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| TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
| 標(biāo)稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
| 試驗方式 | 氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
| 性能 | 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
| 升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
| 低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
| 降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
| 試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
| 溫度范圍 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
| 溫度恢復(fù)時間※2 | 5分鐘以內(nèi) www.oven.cc | |||||||
| 試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
| 試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
| 內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
| H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
| D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
| 外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
| H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
| D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
| ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能。 | ||||||||
| ※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布） | ||||||||
